在半导体生产过程中,从半导体单晶片到芯片的制作过程中需要经历数百道工序。为了确保产品性能符合标准,稳定可靠,并且有高的成品率,每个工艺步骤都必须有严格的具体要求。因此,在生产过程中必须建立相应的系统和精确的监控措施,首要是从半导体工艺检测开始。检测是贯穿整个芯片制造过程的,因此检测设备也是半导体生产中最独特的设备体系,包括多种检测流程,多种检测设备。



半导体检测,首先最需要的就是稳定性,端径跳足够小,速度稳定性足够高,其次是精度足够高。

德玛特气浮系列,具有高精度,高稳定性特点。对于旋转类检测,如探针台、对位转台,有气浮旋转平台,对于直线类检测,有气浮直线平台。

气浮直线平台airDDLP系列,直线度±0.25~±4μm,重复精度低至±2μm。适合满足晶圆检测、高精度计量、X 射线衍射系统、光学检测和制造以及 MEMS/纳米技术器件制造的严格要求。



气浮旋转平台airUPRT气浮旋转平台,端跳低至70纳米,径跳100纳米,具备高稳定性,适合半导体检测、划片、减薄等多种流程。